根据样品特性匹配转盘几何结构:转盘共聚焦最佳成像指南

转盘共聚焦的性能从根本上取决于盘片的几何结构。轴向分辨率、信号背景比与采集速度之间的平衡由两个关键参数决定:针孔直径和 针孔间距。本技术说明旨在阐明如何根据具体 样品特性匹配盘片几何结构，这对优化成像结 果至关重要。我们通过三种不同盘片几何结构 (标准型、高灵敏度型和深层成像型)的不同 应用实例进行说明。这些实例表明:虽然标准 型几何结构可作为通用基准，但针对特定的成 像挑战仍需采用专用光学结构。通过根据样品 的散射特性及体积复杂度定制光学架构，研究 人员可在现代荧光显微技术中显著提升对比 度与结构保真度。